蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。
TESCAN GAIA3电镜系统
TESCAN GAIA3电镜系统完美的集成了超高分辨率的电子光学系统和高性能的离子束系统，二者配置于同一样品室上。GAIA3电镜以MAIA3场发射扫描电镜为平台，在保留MAIA3优越性能的基础上，增加了使用聚焦离子束进行样品表面处理的功能。
INANO纳米压痕仪 电镜纳米压痕仪 高精度，高灵敏
Inano 能轻松的为客户提供准确的，高精度的，可重复的数据。而价格极为经济实用。Inano设计精巧，占用空间小，能在2h内为目前几乎所有材料提供精确测试数据。
工业CCD镜头
机器视觉工业CCD镜头广泛用于丝网印刷机械、贴合、切割、PS打孔机、PCB补线机、PCB打孔机、玻璃割片机、点胶机、SMT检测、贴版机等工业精密对位、定位、零件确认、尺寸测量、工业显微等视觉对位、测量装置等领域。
