岛津EDX-GP型X射线荧光光谱仪
岛津EDX-GP型X射线荧光光谱仪 EDX-GP是适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 第一次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到高灵敏度与佳分辨率的完美结合。EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的
日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪
日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪,日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列产品.
X射线荧光光谱仪Epsilon 3X_Panalytical
Epsilon 3X 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备卓越的分析性能。
手提式光谱仪X-met5000
X-MET5000手持式合金分析仪 X-MET5000能够准确快速地验证关键材料，被众多的检验公司视为多用途工具，可提供多种材料筛选和分析功能。例如“材料可靠性鉴定”（PMI）、流体加速腐蚀测试、RoHS检测，甚至土壤分析。 对准样品即可进行分析 几秒内即可完成常规
微X－射线荧光光谱仪
X-Pectra代表新一代的X射线微荧光光谱仪，它用来描述许多种材料的化学混合物的结构，包括固体，液体，薄膜和粉末 样品。 应用领域包括冶金和有色金属，地质，矿业，珠宝，法医科学，艺术品估，海关监察，
美国珀金埃尔默热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA
美国珀金埃尔默热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA美国PerkinElmer一直致力于热分析的前沿开发，我们新推出的热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA，使用更加便捷，性能更加卓越。无论应用于新材料研究还是产品质量控制，TGA 4000都时刻显示出极佳的结果。
荧光光谱测量系统
光谱测量系统 荧光光谱测量系统 荧光光谱测量系统的说明 荧光光谱测量系统的介绍 荧光光谱测量系统的特点 荧光光谱测量系统的简图
Ux-510多元素分析专家
真空测试系统 特别设计的真空测试系统，全面保证了轻质元素（CL等）的检测质量，同时保留了原有测试系统对于其他元素的适应性。不会因测轻质元素而降低对其他元素的测试效果。